| 产品特性：RF射频测试 | 品牌：奥纳AWNA | 型号：4代RF测试线 |
| 种类：RF射频测试 | 应用范围：通讯 | 工作频率：高频 |
| 接口类型：SMAK-RF4代 | 形状：条形 | 线长：300mm |
| 制作工艺：冷压 | 加工定制：否 | 特性：射频测试 |
| 接触件材质：铜镀金 | 芯数：1 | 针数：1 |
| 物料编号：4代RF射频测试线 | 最小包装数：1 | 应用领域：测量仪器 |
奥纳科技主营RF射频测试器件多年，质量可靠，价格合理，交货快捷。
我们整合了业内主流的品牌（村田MURATA,广濑HRS，I-PEX，罗森伯森，MINI，电连ECT，晶讯通JXT，JUK，呈标等）
常用的射频探针，射频测试线缆，射频转接头，功分器，衰减器等，我们都有做。
下面介绍4代RF射频测试线，主要用于匹配测试4代RF射频测试座来使用的。
4代RF射频测试座的尺寸为1.8*1.8*0.85mm,测试直径为1.2mm.
很多连接器品牌都有生产这个射频测试座，比如HRS的MS-180，电连ECT的818003767等。
针对这个4代RF射频测试座，我们有对应的人工手动测试线(4代RF射频测试线）
长度为300mm，接线口为SMA母头，测试端为滑块设计。
使用频率为0-6GHz，阻抗50欧。
耐久性5000次左右
可以兼容替代广濑HRS的MS180LH1-HRMJ-088V300与MS180LH1-HRMJ-088V100
