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供应4代RF射频测试线

测试稳定机械寿命长损耗低使用方便价格有优势交期短

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产品特性:研发测试加工定制:否型号:4代RF射频测试线
品牌:AWNA奥纳规格尺寸:300mm材质:五金
特性:高频测试用途:高频测试,手机测试接头类型:SMA
频率:0-6GHz使用寿命:3000次左右

深圳奥纳科技有限公司销售射频测试器件,射频头,高频头,射频线,高频线,高频探针.射频测试线等.

下面介绍我司的4代RF射频测试线

本产品为MINI RF CONNECTOR 4 代配套测试手工使用的专用测试线缆组件,可以与板端RF 测试座MS-180;818003767 良好互

配。

目前4代RF射频测试线主要是用于工程研发小批量测试时使用,为人工手动测试线,不依靠任何辅助工具使用。

标准的RF射频测试线长度为30CM,也可按客户的要求定制不同的长度,与不同的接头。

常用接头为SMA公头与SMA母头 2种。如下图,

图1是SMA公头,长度250mm;

图2是SMA母头,长度300mm;



4代RF射频测试线 TECHNICAL PARAMETERS 技术参数

2.1 Rating Voltage 额定电压 250VAC

2.2 Rating Current 额定电流 1A

2.3 Frequency Range 频率范围 DC~6 GHz

2.4 Characteristic Impedance 特性阻抗 50Ω

2.5 Operating Temperature 工作温度 -40℃~+85℃

3、ELECTRICAL PERFORMANCE 电性能

3.1 Dielectric Resistance 绝缘电阻 500Megohm ,Min.  

3.2 Withstanding Voltage 耐 压 300V AC,1minute

3.3 Contact Resistance 接触电阻 70milliohm Max(Inner Contact),30 milliohm Max.(Outer Contact)

3.4 V.S.W.R 电压驻波比 1.6Max. ( DC~3GHz),2.0 max ( 3~6GHz)

3.5 Insertion Loss 插入损耗 ‐1.5dB Max. ( DC~3GHz), ‐2.5dB Max. ( 3~6GHz)

4、MECHANICAL PERFORMANCE 机械性能

4.1 Spring Force of Tested pin 测试头探针弹力 0.15~0.35Kgf(1.5N~3.5N)

4.2 Insertion Force 插入力 N/A(Zero force design) 不适用(按零插入力设计)

4.3 Unmating Force 拔出力 0.5Kgf Min. (unlock state)

非锁紧状态下不测试,禁止锁紧时强行拔出

4.4 Mechanical Duration 机械寿命 5000cycles 5000 次

4.5 Retention Force(axial) 线缆轴向保持力 1.5Kgf Min.(15N Min.)


结合现在产品小型化需求,我们研发了一款小型测试头产品,测试头宽度为4.8mm,

此款迷你4代射频测试线采用自动锁扣设计,无需人工手动锁定,测试头前端由4PCS弹片结构,当插入RF测试座时,

弹片受力外张包住RF座的外环,然后下行到卡槽处时,弹片自动扣住卡槽,完成锁定,此时可正常进行测试。如下图:




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