射频探针应用于：1）射频和微波模块信号插入，检测和测量输出；2）高频电路板电气性能分析；3）高速数字电路分析村田探针主要与带开关的高频同轴连接器和高频同轴连接器相匹配来测试使用。不同型号的高频同轴连接器对应的村田探针型号也不相同，不同的排列方式也有不同体积的探针选择。
村田无电缆探针主要用于实验室评估，测量电缆能够与村田探针相连，配合完成后，探针可凭借与连接器接触点上的夹爪自行站立，配合完成后对探针施加的任何压力都可能导致探针脱落，连接受损或电级剥离。需要细心使用测试。这类探针一般采用SMA接口进行转接。
村田电缆探针主要用于实验室评估。就是把探针与SMA接口延长了，在中间加了一断细软射频线，长度通常为300mm，测量射频电缆装配探针。配合完成后，探针可凭借与连接器接触点上的夹爪自行站立，配合完成后对探针施加的任何压力都可能导致探针脱落，连接受损或电级剥离。需要细心使用测试。常用型号有MXHS83QE3000,MXHQ87WJ3000,MXHQ87WA3000,MXHQ87PA3000,MXHQ87PK3000，MXHQ87PP3000,MXHQ87PN3000等。村田无浮动机构的自动探针可用于产线大批量测试。探针内置在测量装置内，与连接器加压连接，探针不带夹爪锁固功能，因此不会使连接器受损，探针不带浮动机构，因此测量装置应具备浮动机构。常用型号有MM126036MM126038MM126048,MM126310等。其他一些相关的概念Probepitch：指的是针尖(ProbeTips)之间的间距，一般在50-1000um之间不等。对于毫米波频率的应用，针尖间距一般都比较小。Probeskate:当你在Z轴方向往下“按压”探针时，当探针接触到DUT，它将在ZY平面弯曲移动。通常，这也是我们判断针是否扎上的一个现象。De-embeding:去嵌是在探针出现之前就有的技术，之前经常用在一些标准的分立的夹具测试中。