| 品牌：村田 | 用途：射频测试 | 产地：日本 |
| 包装：袋装 | 频率：0g~11g | 外型：T型 |
| 数量：9999 |
射频探针应用于：
1）射频和微波模块信号插入，检测和测量输出；
2）高频电路板电气性能分析；
3）高速数字电路分析
村田探针主要与带开关的高频同轴连接器和高频同轴连接器相匹配来测试使用。不同型号的高频同轴连接器对应的村田探针型号也不相同，不同的排列方式也有不同体积的探针选择。
村田探针主要有这几种类型：村田无电缆探针，村田电缆探针，无浮动机构的自动探针，带浮动机构的自动探针，自动探针（无张力型），校准适配器。
我们提供于村田连接器的一系列测量探针，请使用村田连接器的村田探针
MuRata村田射频探针常用型号推荐：
MM126036、MM126310、MM126320、MM121497、MM121496、MM121491
MM121490、MM121660、MM121600、MM121500、MM121531、MM121537
MM121546、MM121592、MM206612、MM201618、MM206417、MM206810
MM126515、MM126715、MM126712、MM206819、MM201613、MM201670
MM201554、MM201610、MM201552、MM121661、MM121542、MXFQB1PY1000
村田自动探针（无张力型）可用于产线大批量测试，其与带浮动机构的自动探针功能相同，该探针具有结构，因此不受电缆张力影响，该探针使转换电缆更易操作。
其他一些相关的概念
Probepitch：指的是针尖(ProbeTips)之间的间距，一般在50-1000um之间不等。对于毫米波频率的应用，针尖间距一般都比较小。
Probeskate:当你在Z轴方向往下“按压”探针时，当探针接触到DUT，它将在ZY平面弯曲移动。通常，这也是我们判断针是否扎上的一个现象。
De-embeding:去嵌是在探针出现之前就有的技术，之前经常用在一些标准的分立的夹具测试中。
