射频（RF）探针在射频产品生命周期中几乎每一个阶段都起着重要作用：从技术开发，模型参数提取，设计验证及调试一直到小规模生产测试和终的生产测试。通过使用射频探针，人们便有可能在晶片层次上测量射频组件的真正特性。这可以将研究和开发时间缩短并且大大降低开发新产品的成本。
村田探针主要有这几种类型：村田无电缆探针，村田电缆探针，无浮动机构的自动探针，带浮动机构的自动探针，自动探针（无张力型），校准适配器。

村田自动探针（无张力型）可用于产线大批量测试，其与带浮动机构的自动探针功能相同，该探针具有结构，因此不受电缆张力影响，该探针使转换电缆更易操作。

我们提供于村田连接器的一系列测量探针，请使用村田连接器的村田探针
MuRata村田射频探针常用型号推荐：
MM126036、MM126310、MM126320、MM121497、MM121496、MM121491
MM121490、MM121660、MM121600、MM121500、MM121531、MM121537
MM121546、MM121592、MM206612、MM201618、MM206417、MM206810
MM126515、MM126715、MM126712、MM206819、MM201613、MM201670
MM201554、MM201610、MM201552、MM121661、MM121542、MXFQB1PY1000

奥纳科技销售射频探针，主要是日本muRata村田探针。
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其他一些相关的概念
Probepitch：指的是针尖(ProbeTips)之间的间距，一般在50-1000um之间不等。对于毫米波频率的应用，针尖间距一般都比较小。
Probeskate:当你在Z轴方向往下“按压”探针时，当探针接触到DUT，它将在ZY平面弯曲移动。通常，这也是我们判断针是否扎上的一个现象。
De-embeding:去嵌是在探针出现之前就有的技术，之前经常用在一些标准的分立的夹具测试中。